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FGC Array 系统可在一分钟内完成光纤阵列单元（FAU）与 MT 插芯的高精度全自动高速检测，适用于研发实验室与量产产线，通用性极强。设备可检测最大宽度 22mm、高度 0.8mm 的阵列器件，精准测量光纤纤芯位置、纤芯间距、保偏光纤应力棒角度等关键参数。
本设备专为空芯光纤 (HCF)、多芯光纤 (MCF)、保偏光纤 (PMF) 及各类特种光纤几何参数测试设计，适配包层直径 80μm~250μm 的光纤；同时凭借优异性能，也可对常规单模光纤开展高精度几何表征。
FGC-G光纤几何测试系统提供了光纤端面几何形状的高速自动测量。它采用了在标准IEC-60793-1-20附录B中描述的基准测试法（RTM）: 视频灰度技术。
暗视野照明
FGC-P 光纤涂层几何系统是一种紧凑、可靠的解决方案，用于测量光纤涂层的几何特性，光纤涂层直径为 100 μm 至 260 μm。 这种用户友好的全自动系统可快速、直接地测量光纤涂层几何参数，包括： 涂层直径 ，涂层非圆度 ，涂层-包层同心度
