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MPX-1C简化了测量过程：只需连接您的光源和跳线，系统即可实时测量模态发射条件。它采用最新的 CMOS 摄像头技术，能够快速准确地进行测量，给出精确且不依赖用户的结果。
快速、准确和一致的数据捕获，操作员只需最少的培训。
最新的 CMOS 摄像头技术可实现准确快速的测量。
实时测量，便于调整模态条件并提高生产力。
符合标准，包括 TIA-526-14-A、IEC 61280-4-1、TIA/EIA-455-203、IEC 61280-1-4、IEEE 802.3
USB 3.0 连接，便于携带和无缝部署到各个站点。
可选几何校准件，便于校准。
API 软件控制，便于集成到生产环境中。
用于 IEC11801 和 TIA/EIA568 LAN 测试的光源和跳线特性分析
用于千兆以太网 IEEE 802.3的 VCSEL 特性分析
模式扰频器和模式滤波器特性分析
根据 IEC 61280-4-1 测量光源
尾纤光源的对准
